[1]
Bury, M. 2021. Dwa razy mierz, raz tnij – uwagi do propozycji zmian w systemie ochrony wzorów użytkowych postulowanych w poświęconej wzorom użytkowym Monografii. RZECZNIK PATENTOWY. 99-100 : 1-2/2021 (grudz. 2021), 15–70.