BURY, Marek. Dwa razy mierz, raz tnij – uwagi do propozycji zmian w systemie ochrony wzorów użytkowych postulowanych w poświęconej wzorom użytkowym Monografii. RZECZNIK PATENTOWY, [S. l.], n. 99-100 : 1-2/2021, p. 15–70, 2021. Disponível em: https://rzecznikpatentowy.online/index.php/rp/article/view/32. Acesso em: 24 sty. 2026.