Bury, Marek. 2021. „Dwa Razy Mierz, Raz Tnij – Uwagi Do Propozycji Zmian W Systemie Ochrony wzorów użytkowych Postulowanych W poświęconej Wzorom użytkowym Monografii”. RZECZNIK PATENTOWY, nr 99-100 : 1-2/2021 (grudzień):15-70. https://rzecznikpatentowy.online/index.php/rp/article/view/32.