Odpowiedź na artykuł M. Burego pt. Dwa razy mierz, raz tnij – uwagi do propozycji zmian w systemie ochrony wzorów użytkowych postulowanych w poświęconej wzorom użytkowym Monografii

Authors

  • Marcin Balicki

Abstract

Z narastającym zaintrygowaniem czytałem polemikę dra Marka Burego z wybranymi propozycjami zmian w modelu ochrony wzorów użytkowych w Polsce, które przedstawiłem w książce Ochrona wzorów użytkowych. Niestety powodem tego nie była celność podnoszonych przez Polemistę argumentów, ale raczej wybiórczość analizy i bezpodstawność krytyki. Polemiczny zapał przywiódł Polemistę nie tylko do sięgania po fragmenty książki wyjęte z kontekstu, ale również do potyczek z tezami lub stwierdzeniami, których nigdy nie postawiłem.

Published

2021-12-31

How to Cite

Balicki, Marcin. “Odpowiedź Na Artykuł M. Burego Pt. Dwa Razy Mierz, Raz Tnij – Uwagi Do Propozycji Zmian W Systemie Ochrony wzorów użytkowych Postulowanych W poświęconej Wzorom użytkowym Monografii”. RZECZNIK PATENTOWY, no. 101-102 : 3-4/2021, Dec. 2021, pp. 85-96, https://rzecznikpatentowy.online/index.php/rp/article/view/30.

Issue

Section

Teksty z wydań archiwalnych