Odpowiedź na artykuł M. Burego pt. Dwa razy mierz, raz tnij – uwagi do propozycji zmian w systemie ochrony wzorów użytkowych postulowanych w poświęconej wzorom użytkowym Monografii
Abstrakt
Z narastającym zaintrygowaniem czytałem polemikę dra Marka Burego z wybranymi propozycjami zmian w modelu ochrony wzorów użytkowych w Polsce, które przedstawiłem w książce Ochrona wzorów użytkowych. Niestety powodem tego nie była celność podnoszonych przez Polemistę argumentów, ale raczej wybiórczość analizy i bezpodstawność krytyki. Polemiczny zapał przywiódł Polemistę nie tylko do sięgania po fragmenty książki wyjęte z kontekstu, ale również do potyczek z tezami lub stwierdzeniami, których nigdy nie postawiłem.
Pobrania
Opublikowane
31.12.2021
Jak cytować
Balicki, Marcin. „Odpowiedź Na Artykuł M. Burego Pt. Dwa Razy Mierz, Raz Tnij – Uwagi Do Propozycji Zmian W Systemie Ochrony wzorów użytkowych Postulowanych W poświęconej Wzorom użytkowym Monografii”. RZECZNIK PATENTOWY, nr 101-102 : 3-4/2021, grudzień 2021, s. 85-96, https://rzecznikpatentowy.online/index.php/rp/article/view/30.
Numer
Dział
Teksty z wydań archiwalnych